NI CompactDAQ是一款模块化数据采集系统，提供60多个测量块，连接不同类型信号，兼具更快的速率、更高的分辨率、更优良的噪声屏蔽及精准同步等优势，适用不同场景下的高质量测量需求。工程师为什么选择NI CompactDAQ进行电气和传感器测量？锁定3月27日的网络研讨会，NI专家将围绕模块化的价值、CompactDAQ概述、Demo演示等方面展开精彩讲解。

本次会议通过展示NI平台化测试测量技术，讨论如何基于通用测试平台高效完成实验室验证，产线测试及设备数据监测等应用，连通产品从研发、生产到应用的全流程，并通过测试数据的分析改善系统，提升效率，优化成本。在会议中，您将与技术专家现场交流讨论，帮助您更好的规划并开展项目应用。会议同期举办数据采集动手课程，工程师现场教您从0开始快速搭建NI数据采集系统，名额有限，先到先得。

进行嵌入式软件测试时，集成模型是对真实世界状况进行有效仿真的关键一步。产品测试和验证需要依赖高保真模型来重现真实的状况。然而，模型设计者和测试工程师有不同的诉求和关注重点，两方的关系较为复杂。通过简化测试工程师将模型集成/到测试设备中的方式，可以减少错误并缩短开发时间。本网络研讨会介绍了测试工程师可如何使用NI的VeriStand以及Mathworks®与NI共同开发的工具，将Mathworks® Simulink®中内置的模型集成到测试框架中。了解如何集成CPU和FPGA模型，以及如何快速获取Simulink IP并在FPGA硬件上运行。

您是否为需要DIY测试系统而苦恼，必须对它进行维护或扩展才能真正满足测试需求？您是否因为无法简单地重用代码而需要花时间重写上个测试中同样的代码？在本次网络研讨会中，您将了解如何使用NI的互联软件平台来标准化工作流程并缩短测试时间，利用软件解决方案的优势，将时间更多地花在产品测试而不是管理软件工具上。研讨会结束后，您还将获得会上演示范例的分步指南，便于您亲自操作或分享给同事。

本次活动您将听到三位来自不同领域的芯片验证专家的精彩讲座，了解实验室Validation自动化实现过程中的三方面挑战，模拟芯片验证的发展历程与未来趋势，以及玩转数字模式仪器之高速FPGA篇。同时还有机会参与小组互动讨论交流，与其他芯片验证工程师们分享您的观点和问题，拓展您的人脉和视野。

通过本次研讨会，我们会为您展示LabVIEW与PLC通讯的实际案例，以及介绍OPC和Modbus相关的知识。主要包含的主题内容有：LabVIEW、OPC、以及Modbus的相关介绍、项目案例展示、实际操作演示、相关问题答疑。

本研讨会可协助您了解准确分析功率的基本技巧和工具，确保在各种低功耗应用中可靠地测量电源性能。研讨会将覆盖全面内容，从了解关键参数到选择合适的测量工具，为您带来簇新知识与理想实践，让您在竞争中脱颖而出。您还将学习真实的低功耗验证案例，了解如何克服常见挑战并获得宝贵洞见，进一步增强电源性能测量能力。

PXI示波器是非常重要的多功能仪器，可用于时域和频域测量。NI提供各种模块化示波器，方便您根据成本、通道密度、测量分辨率或采样率等要求定制测试站。欢迎加入我们的网络研讨会，深入了解NI PXI示波器。

数据采集不需要编程经验。本次网络研讨会向您展示如何通过Python实现NI无代码数据采集软件FlexLogger的自动化，以更少的编程工作量建立自动化测试系统。FlexLogger负责管理数据采集和记录，而Python代码负责处理自动化、DUT控制等！

LabVIEW 2023现已发布！在本版本中，增加了虚拟环境支持，从而优化Python集成度。此外，LabVIEW 2023增加了让代码分享更轻松的新功能，并在工作流与效率方面持续改进。通过线上研讨会，一睹为快这些功能的实际应用吧！